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X荧光仪样品测定方法

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X荧光仪样品测定方法

发布日期:2019-03-02 12:20 来源:http://www.zjhhht.com 点击:

一.目的:

本法适用于切片中钛含量及锑含量测定

二.操作步骤

1.0打开Venus软件

2.0选中Detail,机器恒温到37摄氏度左右

3.0点击Application,选择Sb-Ti曲线

4.0选择测量图标,输入样品序号。

5.0将压好的样品正面向下放入测量槽内,关上盖子。

5.1按MEASURE 开始测定。

5.2将压好的样品片(光滑面做检测面)放进测试孔,盖好荧光仪盖子,测量。

6.0测量完毕,待指示灯灭后,方可取出样品。

***测量完毕,机器不必关闭电源!

三.注意事项

房间温度确保在15-30度间,否则仪器将跳停。



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